Wavelet Design

제품소개

CUSTOMER CENTER : 031-469-2288, FAX : 031-8039-4110, E-Mail : kdlee@waveletdesign.co.kr

R&D

  • Home
  • >
  • 제품소개
  • >
  • R&D
nfs_title.png

니어필드 스캐닝 시스템



니어-필드 스캐너 시스템은 “Holographic Sound Field Expansion 기법에 필요한 데이터를 스피커(DUT)의 구면 근접 측정(3D near-field scanning)을 통해 완전 자동으로 획득하여 DUT로부터 발생한 모든 거리와 방향의 sound radiation을 예측하는 장비입니다.

측정 원리는 3개의 축으로 움직이는 마이크로폰이 원통형 표면의 니어-필드의 음압을 스캔하여 Multi-pole Expansion으로 재구성하고, 여기서 얻어진 near-field data를 기반으로 Field Extrapolation을 통해 scanning 표면 위부의 sound radiation을 예측하게 됩니다.   

NFC대형 PA 스피커(500kg 이하)부터 노트북 스피커까지 모든 파-필드용과 니어-필드용 스피커의 3D space에서의 주파수 응답, 파워 응답, 지향 특성의 측정이 가능합니다. NFS “Near Field Analysis 모듈 near-fleld의 특성이 중요한 퍼스널 오디오기기와 스튜디오 모니터의 주파수 응답과 SPL 분포, 위상 특성을 시각화하여 주며, “Far Field Phase Analysis 모듈 phase balloon, group delay, 임펄스 응답과 같은 음원의 위상 특성 및 룸 어쿠스틱 시뮬레이션 소프트웨어(: EASE)에 필요한 data set을 제공합니다.     


<특징>    

1) 더블 레이어 스캔을 통해 직접음과 반사음을 구분하여 룸의 영향을 배제할 수 있어 무향실이 아닌 일반룸에서 측정이 가능하며, 무향실보다 더 정확한 저역 응답을 측정할 수 있고,  

2) 근접 측정을 통해 높은 SNR을 확보하여 ambient noise의 영향을 적게 받으며  

3)far-field 측정의 공기 회절 문제를 근본적으로 차단합니다.  

4)또한 측정시 DUT를 회전시키지 않기 때문에 최대 500kg의 라우드 스피커의 측정이 가능하며,  

5)1도의 각 해상도를 구현하기 위해 64,800개의 측정포인트가 필요한 far-field 측정과 달리, 50~2,000개의 측정포인트 만으로 최대 해상도를 얻을 수 있어 측정 시간을 획기적으로 단축합니다.